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手持光谱仪的原理
在XRF分析法中，从光发射管里发射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所发射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
手持式光谱仪的使用方法
奥林巴斯手持式光谱仪是一款镀层测厚分析、合金成分分析、金属成分分析等多功能为一体的手持式荧光光谱仪。可以帮您在无损检测的前提下测试出样件的镀层厚度，并且这个测试过程极为简单轻松：
如果说“把大象装冰箱统共分三步”，那使用奥林巴斯手持光谱仪也仅仅需要三步：
1.选择一个任意金属基材的镀层样品(铁、铜、镍等等都可以)。
2.正确使用我们的工厂镀层方法，或自定义一个特定的应用与可选的单点校准。
3.开始测试。
手持式光谱仪的功能
奥林巴斯手持光谱仪可分析以任意材料为基体的24种元素镀层，可测试3层微米级的镀层厚度，可在几秒之内测试得出镀层厚度，快速、准确。
同时还可为您测试各基体单层镀层与各基体的复合镀层（可测试3层镀层），其中包含但不限于铁镀铬，铁镀锌，铁镀镍，铜镀银，铜镀锡等镀层。在无损的检测情况下几秒钟内测试出样品的镀层厚度(微米级)，并且这个过程极为轻松。
